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日置阻抗分析仪支持各类生产线的测量模式
点击次数:1042 发布时间:2018-02-09
   日置阻抗分析仪具备丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定),使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量。紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小,另外主机不带测试治具,需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。日置阻抗分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。
  日置阻抗分析仪的详细介绍:
  1.1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
  2.LCR模式下zui快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
  3.基本精度±0.08%的高精度测量
  4.适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量,分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
  日置阻抗分析仪主要用途:
  电子元件厂商的电子元件的出货检查
  电子元件厂商的电子元件的验收和特性评估
  日置阻抗分析仪支持各类生产线的测量模式;智能实现正确测量·分析的各种功能和大小:适用于研究开发用途的测量功能,半机架大小和舒适的操作提高产量,接触检查功能(DCR测量和Hi Z筛选)。日置阻抗分析仪能在阻抗范围和宽频率范围进行测量,它利用物体具有不同的导电作用,在物体表面加一固定的低电平电流时,通过阻抗计算出物体的各种器件、设备参数和性能优劣。日置阻抗分析仪在测量中实现高速及高稳定性兼顾,缩短间歇,提高产能。
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